Новости25 February 2026
Сервис патентной аналитики Patseer ProX: тестовый доступ до 23 апреля и обучающие вебинары в помощь
Patseer ProX– платформа для проведения патентных исследований с интегрированными аналитическими инструментами, использующая возможности искусственного интеллекта. База данных патентного поиска содержит:
Для формирования поисковых запросов доступны инструменты с «тонкой настройкой фильтров», поиск в ручном «профессиональном режиме» и автоматический поиск с помощью ИИ. Платформа позволяет настраивать варианты отображения патентной информации, сохранять и экспортировать результаты поиска, анализировать найденные документы с помощью диаграмм и графиков с использованием различных групп фильтров и слоев, в том числе с использованием ИИ, вести совместную работу над проектом для команд из 20 участников одновременно. Большинство документов содержат аннотации на английском языке, полные тексты документов приводятся на языке оригинала. Для доступа в базу необходимо самостоятельно зарегистрироваться по ссылке с компьютера, находящегося в сети ТГУ. Далее доступ к ресурсу осуществляется по ссылке по индивидуальным логину/паролю пользователя с любого компьютера из любой точки сети Интернет. Информационные материалы: - Подробный видеообзор возможностей платформы Patseer ProX (на русском языке)- Регистрация пользователей на платформе на русском языке, на английском языке- Охват источников базы данных Patseer ProX
Компания Patseer Technologies приглашает принять участие в вебинарах, организованных в поддержку тестового доступа к сервису патентной аналитики: - 4 марта, 14:00 (время томское) – «Знакомство с ПО Patseer», подключиться - 8 апреля, 14:00 (время томское) – «Консультация по работе с ПО Patseer, ответы на вопросы пользователей», подключиться Подробное описание вебинаров по ссылке. Дополнительная информация, вопросы: зав. сектором продвижения коллекций Наталья Ивановна Должина, dolgina@lib.tsu.ru, тел. (3822) 78-51-36.
|